测试管脚:192脚
 
测试适用范围：
 
元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
 电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)
 
测试原理(v-i曲线测试)：
 
对元器件的每个管脚施加一个  的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
 被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
 测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。
 
集成电路测试仪操作如此简单:
 
1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
 2.将集成电路插入测试座.
 3.执行测试
 4.得到PASS或FAIL的测试结果.
 
不需要电子专业知识.
 适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
 灵活、好安装、宜操作.
 测试结果直接: PASS或FAIL.
 软件可设定各种测试条件.
 可提供完整的元件测试分析报告.
 
 适合不同封装形式的元件:
 
-双列插脚(DIL)
 -小型封装集成集成电路(SOIC)
 -小型封装(SSOP, TSOP)
 -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
 -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
 -球门阵列封装(BGA)
 注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。
  
 
测试通道
 
标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
 升级模块：64通道 
 可扩充到192/256个测试通道。
 
AT192集成电路测试仪用两种模式扫瞄:
 
一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
 矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。
 
通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)
 
数据库
 
用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。
 
 结果比较型式:
 
 将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:
 
 与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。
 
 软件- 灵活性
 
1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库, 
 2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件
 
 
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