美高森美Microsemi（原Symmetricom）5120A相噪和阿伦Allan方差测试仪

     相噪和阿伦方差的**测量从来都不是容易且低成本的。传统的测量工具需要一个外部的锁相环，这样就使得测量手段相对复杂和昂贵化。5120A只需您轻点一下按钮，就可以提供**快速的相噪和阿伦方差测量值，从而大大的提高了方案的简便性和性价比。

     Microsemi（原Symmetricom）公司制造的5120A是目前世界上**容易使用的相噪和阿伦方差测试工具：只需将被测源和参考源连接在5120A上并点击“开始”按钮，几秒钟后有效的测量数据就会出现在设备自带的高分辨率显示屏上。另外，您不需要进行乏味的多步骤设置和校准。

     5120A是从Symmetricom之前的相噪和阿伦方差测试领域的产业标准5110A发展而来，除了拥有标准的测量性能外，新一代5115A提供的相噪值测量结果几乎达到了一个**到极限的精度（±1.0　dB）。

     Microsemi（原Symmetricom）的相噪和阿伦方差测量设备的制作工艺近年来有着高速的发展，并成功地将之前该领域的多次测量方法转变成简单的一体化解决方案。这使得5120A在节省成本的前提下得出更为**的测量结果。

为进一步方便使用，Symmetricom公司替5120A增加了一个内部振荡器的选项，即5120A-01，这就省去了您再单独采购和标定一个外部参考源的成本。拥有5120A-01，您只需要接入被测源与设备自带的参考源做比对，就可以得出**的测量值。

     5120A带来的是相噪和阿伦方差测量领域的一个思维模式的转变。拥有5115A，过去在研发和生产中昂贵复杂的测量方案将变得更简洁，更快速，更**而且低成本。

     全数字一体化测试设备的好处：5120A将复杂的时频工艺融合成一个简单**包含Symmetricom专利算法的测量仪。在上面的5115A框架图上，正要通过5115A的被测设备和参考源立刻就会转变成各自的数字形态。这使得5115A无需外部的锁相环和其他的校准机制。此外，5115A不需要参考源的频率同被测设备一样。

     互相关技术的好处：从上方的框架图可以看出，5120A采用了创新的互相关技术。在取得同时观察值得同时，5120A交叉关联了两个通道的离散傅里叶变换，一方面用来估算输入设备的噪声，另一方面去掉了两个测量子系统本身的噪声。这就使得**终的测量结果比一般的单通道设备**的多。

电气指标

输入频率范围：1-30　MHz（正弦波）

阿伦方差：≤3E-15每秒（0.5　Hz带宽）

相噪指标：

量测精度：±1.0　dB

偏移频率范围：0.1　mHz-1　MHz

系统噪声基底（10　MHz输入）：

偏移      相噪

1　Hz    -145　dBc/Hz

10　Hz    -155　dBc/Hz

100　Hz   -165　dBc/Hz

≥10　kHz  -175　dBc/Hz

系统噪声基底（10　MHz输入，使用内部参考源）：

1　Hz    -120　dBc/Hz

≥10　Hz   -168　dBc/Hz

技术指标：

输入信号强度：3-17　dBm

输入阻抗：50Ω

输入接口：TNC（配置两个BNC适配器）

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