供应LED半导体光通讯封装检测仪 推拉力测试机基本介绍 
 

  推拉力测试机是一种用于检测半导体芯片、LED封装、元器件、汽车电子等推拉力的设备。 
 

  供应LED半导体光通讯封装检测仪 推拉力测试机性能特点 
 
 
 
传感器精度高，综合测试精度高。
 
 
测试精度高，多点位线性精度校正，并用标准法码进行重复性测试，保证传感器测试数据准确性。
 
 
软件参数设置简单，根据各级权限可对合格力值、剪切高度、测试速度等参数进行调节。
 
 
测试平台真空360度自由旋转测试平台，适应于各种材料测试需求。
 
 
设备整体结构采用五轴定位控制系统，X轴和Y轴行程100mm，Z轴行程80mm，结合人体学设计，全方位保护措施。
 
 

  供应LED半导体光通讯封装检测仪 推拉力测试机技术参数 
 

  测试精度：传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25% 
 
 测试范围：根据客户产品配置不同量程测试模块 
 
 工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性 
 
 传感器更换方式：手动更换测试模组 
 
 操作系统：控制系统+Windows操作界面 
 
 平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转 
 
 X轴行程：75mm 
 
 X轴分辨率：+/-0.002mm 
 
 Y轴行程：75mm 
 
 Y轴分辨率：+/-0.002mm 
 
 Z轴行程：80mm 
 
 Z轴分辨率：+/-0.001mm 
 
 电源：220V±5% 
 
 功率：300W(MAX) 
 
 外型尺寸：长：500*550*440mm 
 
 重量：80kg 
 
 
  
 

  供应LED半导体光通讯封装检测仪 推拉力测试机使用说明 
 

  推拉力测试机是一种用于测试材料的拉伸、压缩、弯曲、剪切等力学性能的测试设备。它可以广泛应用于元器件、电子元器件、汽车零部件等各种材料的力学性能测试。该测试机具有高精度、高稳定性、高自动化程度、易于操作等特点，可以实现多种测试模式，如恒定速度拉伸、恒定速度压缩、恒定速度弯曲、恒定速度剪切等。同时，该测试机还具有数据采集、处理、分析和报告输出等功能，可以满足不同用户的测试需求。 
 

  供应LED半导体光通讯封装检测仪 推拉力测试机采购须知 
 

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