浪声 镀层分析仪 台式镀层测厚仪基本介绍 
 
 
 
镀层工艺被广泛应用于五金制品中，科学技术与现代工业的发展对五金制品质量标准和控制越来越严格，进而对镀层技术发展和质量控制也越来越标准化。目前我们市面上，五金行业金属表面的镀层镀层主要分为三类：防护性镀层、防护-装饰性镀层、功能性镀层3种。
 
 
不同镀层产品的质量检查的内容因零件和镀层而异，但镀层的外观、厚度、耐蚀性和与基体金属的结合力是所有镀层都必须检查的内容，其中镀层的厚度是镀件品质的重要保证因素。针对五金制品行业的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，浪声科学为您提供的、智能的XRF分析仪器——晓INSIGHT 镀层分析仪是一款上照式镀层分析仪，具有高灵敏度、非破坏性、操作简单、测试精度高、外观紧凑、节约空间等特点，不仅可用于对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品进行元素分析，还能用于镀层和镀层系统的厚度测量，广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和生产工艺控制环节，以帮客户降低物料成本，满足对应的工业标准。
 
 
 
 浪声 镀层分析仪 台式镀层测厚仪性能特点 
 
 
 
多准直器
 
 
多准直器可选或多种准直器组合由软件自动切换，使得晓INSIGHT的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。
 
 
 
 
 
一键式测量
 
 
配备直观而智能的分析软件，操作简单，任何人无需培训都可以测试样品，仅仅需要点击“开始测试”，数十秒即可获得检测结果啦。
 
 
 
 
 
自动对焦
 
 
高低大小样品可快速清晰对焦，视频图像可放大、含十字线、自动聚焦。
 
 
 
 
 
超大测量室
 
 
仪器壳体的开槽设计（C型槽）使得测量空间宽大，样品放置便捷，可以测量如线路板类大而平整的物品，也可以放置形状复杂的大样品。
 
 
 
 
 
无损检测
 
 
X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常的。
 
 
 
 
 
高性能进口探测器
 
 
选用适合于多元素镀层的Si-PIN探测器，比起传统的封气正比计数器，Si-PIN具有佳分辨率、低的背景噪声（高 S/N 比）长期稳定性以及长的使用寿命。
 
 
 
 
 
高精度手调X-Y平台
 
 
搭载高精度手调X-Y平台，高精度可达25μm，使微区测量便捷。
 
 
 
 浪声 镀层分析仪 台式镀层测厚仪技术参数 
 
 
 
 
  
 
   
 
    
特点
 
    
 
自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法
 
 
   
 
   
 
    
元素范围
 
    
Na()—Fm(镄) 
 
   
 
   
 
    
分析层数
 
    
5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析多可分析25种元素
 
   
 
   
 
    
X射线管
 
    
50 W（50kV，1mA），钨钯X射线管（靶材可选配）
 
   
 
   
 
    
探测器
 
    
Si-PIN大面积探测器
 
   
 
   
 
    
准直器
 
    
φ0.5-φ5可选，多准可选
 
   
 
   
 
    
相机
 
    
 
高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素
 
 
   
 
   
 
    
放大倍数
 
    
 
40x-160x
 
 
   
 
   
 
    
手动样品XY平台
 
    
移动范围：100 x 150 mm
 
   
 
   
 
    
可编程XY平台
 
    
(可选配)
 
   
 
   
 
    
Z轴移动范围
 
    
150 mm
 
   
 
   
 
    
样品仓尺寸
 
    
520×480×170mm（L×W×H）
 
   
 
   
 
    
外形尺寸
 
    
624×702×730mm（L×W×H）
 
   
 
   
 
    
重量
 
    
120KG
 
   
 
   
 
    
 
 
    
AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 
 
   
 
   
 
    
额定功率
 
    
150W
 
   
 
  
 
 
 
 
 
 浪声 镀层分析仪 台式镀层测厚仪使用说明 
 

    
 
 
 浪声 镀层分析仪 台式镀层测厚仪采购须知