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国产x射线荧光光谱分析仪
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1000台
产地
江苏省/苏州市
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江苏天瑞仪器股份有限公司

  国产x射线荧光谱分析仪属于**的分析检测仪器,天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光谱仪技术为基础,结合国外相关**的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型国产x射线荧光谱分析仪。EDX 3600K 国产x射线荧光谱分析仪**的亮点在于它大**窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到国际**水平。

  性能优势:

  1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳

  使用大面积**窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率**达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线性、良好的能量分辨率;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

  2.测试精度更高,检出限更低

  ①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。

  ②采用超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

  3.分析速度更快,从**秒即可得到定性定量结果

  采用自主研发的数字多道技术,其**线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从**秒就可以得出定性定量结果,

  设计成高计数率,大提高了设备的稳定性。

  4.一键式智能化操作

  专业软件,**的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。

  5.强大的自动化功能

  ①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。

  ②采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

  8.三重安全防护功能

  三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。

  国产x射线荧光谱分析仪edx3600k仪器配置:

  **窗电制冷SDD探测器

  自旋式样品腔

  高效超薄窗X光管

  信噪比增强器SNE

  超近光路增强系统

  可自动开启的测试盖

  自动切换型准直器和滤光片

  真空腔体

  自动稳谱装置

  90mm×70mm的液晶屏

  **的数字多道技术

  多变量非线性回归程序

  相互独立的基体效应校正模型

  国产x射线荧光谱分析仪edx3600k技术参数:

  X射线源:50KV、1mA

  样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm

  分析方法:能量色散X荧光分析方法

  测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到**(U)]之间的元素均可测量

  检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素

  含量范围:ppm~9.9%

  检测时间:10秒以上

  检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

  探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率为14±5eV,可选配极速探测器**至125eV

  激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

  摄像头:高清摄像头

  测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以

  准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换

  自旋装置:可调速的自旋装置

  检出限:对样品中的大多数元素来说,**检出限达5~500ppm

  真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa

  数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率

  测试台:360°电动旋转式

  保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成

  样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动

  数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps

  外形尺寸及重量:69mm×540mm×874mm,90KG

  操作环境湿度:≤90%

  操作环境温度:15℃~30℃
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