IC电磁发射测试系统 依据IEC 61967-3的测试系统-IC扫描仪 ICS103/FLS102/FLS103 10MHz-3GHz
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广东省/深圳市
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深圳市元锋科技有限公司

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主营产品:
示波器/电压电流探头,函数/任意波形发生器,频谱分析仪,微波/射频信号发生器,功率计/功率分析仪,交直流电源,电子负载,EMI/EMS测试,LCR测试仪,WIFI/蓝牙测试仪,USB/HDMI协议分析仪,矢量网络分析仪
- 产品参数 -
商标 LANGER
型号 LANGER IEC 61967-3
规格 LANGER IEC 61967-3
包装 全新
认证 CE/UL/UE/CCC
类型 LANGER IC扫描仪 ICS103
品牌 LANGER IC扫描仪 ICS103
测量范围 10MHz-3GHz
电源电压 AC:50/60Hz 1V-220V
外形尺寸 CE/UL/UE/CCC
适用范围 CE/UL/UE/CCC
型号 LANGER IEC 61967-3
规格 LANGER IEC 61967-3
商标 LANGER
包装 全新
- 产品详情 -
IC电磁发射测试系统
依据IEC 61967-3的测试系统-IC扫描仪




ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪,能在3线性轴(x,y,z)或者4轴( 3线性轴:x,y,z和α旋转)运动,分辨率高达5μm,特别适合于集成电路(IC)以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。

      ICR系列近场微探头,分辨率可达65μm,频率范围覆盖10MHz-3GHz,具有多种分辨率探头。


系统组成
1. ICR探头(近场微探头)
Langer EMV-Technik 生产的ICR系列近场微探头用于测量磁场或电场近场高分辨率和高灵敏度测试。该探头适用于集成电路(IC)和印刷电路板(PCB)的场测量。
2. 电磁兼容扫描仪
电磁兼容扫描仪,是一个模块化设备系统,用于小片电路表面,焊接线,引脚和纤细模块的电场和磁场近场微探针自动测量。
除了近场微探头的支架,该系统还包括一个4轴定位系统用于引导微探头,一个电机控制器通过电缆连接到设备和模块化的软件。该系统通过USB接口与PC和频谱分析仪直接相连。
组成部分:
1)     3线性轴(x,y,z)或者可选4轴( 3线性轴:x,y,z和α旋转)上的推进器;
2)     测试板TB 1022(接地平面,受试设备(DUT)支架与连接板CB 0706);
3)     电机控制器以驱动推进器;
4)     频谱分析仪;
5)     电脑用于ChipScan的控制和操作软件;
3. ChipScan软件
软件组成部件操作和控制整个测量配置。设备集中管理和控制。推进器可以用程序或图形化操纵杆进行控制。交互模式下执行测量算法,并且测量结果用三维图形显示。测量数据可以导出,便于应用。
测量算法是基于用户生成的自由可编程扫描的脚本。
配置测量算法是:
 -点扫描(ptp扫描);
 -线扫描(连续扫描);
 -表面扫描;
 -体积扫描;








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深圳市元锋科技有限公司
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