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CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块
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- 订货量
- ≥1
| 规格 | 供货量(件) |
| CSK—IA 支架 | 1000 |
| CSK—IA 试块 | 2000 |
| CSK—IA 翻转架 | 1000 |
- 最小起订量
- 1 件
- 供货总量
- 4000件
- 产地
- 山东省/济宁市
- 发货期
- 自买家付款之日起7天内发货
- 产品参数 -
| 商标 | 东方 |
|---|---|
| 型号 | Csk-ia 试块 |
| 规格 | 300*100*25 |
| 包装 | 铝箱+纸箱 |
| 产量 | 10000 |
| 型号 | Csk-ia 试块 |
| 规格 | 300*100*25 |
| 商标 | 东方 |
| 包装 | 铝箱+纸箱 |
- 产品详情 -
CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块 基本介绍CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和 长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块 性能特点CSK-IA 试块是我国承压设备无损检测标准 NB/T47013 中 规定的标准试块。CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块 技术参数探测灵敏度的调整
根据 AVG 原理，在探头探伤时可把 R100mm 圆弧面视为大平底反射， 以此来调整探测灵敏度。直探头探伤时可把厚度为 25/100mm 的几个侧面 视为大平底处理，以此来调整灵敏度。另外，也可以根据探伤要求，仪测 量 1.5mm 横通孔反射波来确定灵敏度
CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块 使用说明探测灵敏度的调整
根据 AVG 原理，在探头探伤时可把 R100mm 圆弧面视为大平底反射， 以此来调整探测灵敏度。直探头探伤时可把厚度为 25/100mm 的几个侧面 视为大平底处理，以此来调整灵敏度。另外，也可以根据探伤要求，仪测 量 1.5mm 横通孔反射波来确定灵敏度
CSK-IA 试块 - NB/T47013-2015承压设备无损检测标准试块 采购须知
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